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半导体标准规范

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SJ/T 2658.11—2015 半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间
SJ/T 2658.7—2015 半导体红外发射二极管测量方法第7部分：辐射通量
SJ/T 2658.2—2015 半导体红外发射二极管测量方法第2部分：正向电压
T/GVS 005—2022 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
SJ/T 2658.12—2015 半导体红外发射二极管测量方法第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽
SJ/T 2658.5—2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻
SJ/T 2658.4—2015 半导体红外发射二极管测量方法第4部分：总电容
SJ/T 10414—2015 半导体器件用焊料
SJ/T 2658.10—2015 半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽
SJ/T 2658.3—2015 半导体红外发射二极管测量方法第3部分：反向电压和反向电流

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