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半导体标准规范

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GB/T 1550—2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 14844—2018 半导体材料牌号表示方法
GB/T 37131—2018 纳米技术半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
GB/T 11498—2018 半导体器件集成电路第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
GB/T 13062—2018 半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
GB/T 4937.11—2018 半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法
GB/T 4937.17—2018 半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照
GB/T 4937.21—2018 半导体器件机械和气候试验方法第21部分：可焊性
GB/T 4937.14—2018 半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）
GB/T 4937.201—2018 半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

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