GB/T 4937.27—2023半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）.pdf， 行业分类电子学。
此标准依据半导体器件对规定的机器模型（MM）静电放电（ESD）所造成损伤或退化的敏感度，建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。此标准相对于人体模型ESD，用作一种可选的测试方法，目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果，以此进行准确分级。
此标准适用于半导体器件，属于破坏性试验。
半导体器件的ESD测试从此标准、人体模型（HBM-见GB/T 4937.26）或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另有规定外，HBM测试方法为所选方法。
