GB/T 5594.2—1985

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GB/T 5594.2—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法.pdf

此标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

GB/T 5594.2—1985

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