GB/T 5594.5—1985

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GB/T 5594.5—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法.pdf

此标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。

GB/T 5594.5—1985

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