T/CSTM 01003—2023

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T/CSTM 01003—2023相变存储器电性能测试方法.pdf,行业分类电子器件制造。

内容简要 本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法,分为器件性能测试和器件可靠性测试,器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗;器件可靠…

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