GB/T 4937.12—2018

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GB/T 4937.12—2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动.pdf, 行业分类电子学。

GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。

本试验与GB/T2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。

GB/T 4937.12—2018