GB/T 34893—2017

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GB/T 34893—2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法.pdf, 行业分类电子学。

此标准规定了基于光学干涉显微镜获取MEMS微结构表面形貌进行面内长度测量的方法。

此标准适用于表面反射率不低于4%,宽深比不低于1:10,且使用光学干涉显微镜能够获取形貌的MEMS微结构。

GB/T 34893—2017