GB/T 4937.4—2012

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GB/T 4937.4—2012半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST).pdf, 行业分类电子学。

GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

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