GB/T 4937.3—2012半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检.pdf， 行业分类电子学。
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
GB/T 4937.3—2012半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检.pdf， 行业分类电子学。
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。