GB/T 14031—1992

GB/T 14031—1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理.pdf， 行业分类电子学。

此标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。