GB/T 12636—1990

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GB/T 12636—1990微波介质基片复介电常数带状线测试方法.pdf

此标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。此标准适用于测试各种基片(如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等)在微波频率下的复介电常数。测试频率范围:f=1~20GHz测试介电常数范围:ε'=2~25测试损耗角正切范围:tanδ=5×10~1×10

GB/T 12636—1990