T/CIE 134—2022磁随机存储芯片数据保持时间测试方法.pdf，行业分类集成电路设计。
内容简要 本标准给出了磁随机存储（MagneticRandomAccessMemory;MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁…
T/CIE 134—2022磁随机存储芯片数据保持时间测试方法.pdf，行业分类集成电路设计。
内容简要 本标准给出了磁随机存储（MagneticRandomAccessMemory;MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁…