GB/T 19248—2003

GB/T 19248—2003封装引线电阻测试方法.pdf， 行业分类电子学。

此标准规定了测量封装引线电阻的方法。此标准适用于针栅阵列封装(PGA)引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体(LCC)、四边引线扁平封装(QFP)和陶瓷双列封装(CDIP)等引线电阻的测试。