T/IAWBS 011—2019

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T/IAWBS 011—2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法.pdf,行业分类电子元件及电子专用材料制造。

内容简要 碳化硅作为第三代半导体,在耐高温、耐高压、耐大电流等领域有独特的功能和作用,其技术发展的成熟度越来越高,从原材料到功能模块,已经形成了完整的产业链。碳化硅单晶电阻率的测试,是衡…

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