T/IAWBS 010—2019

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T/IAWBS 010—2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法.pdf,行业分类电子元件及电子专用材料制造。

内容简要 随着SiC产业的发展,获得完美表面的SiC单晶抛光片已成为碳化硅材料应用的关键环节之一。为了制造高性能的SiC电力电子器件,要求晶片晶格完整,具有平整度极高的无损伤超平滑表面,…

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