T/IAWBS 008—2019

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T/IAWBS 008—2019SiC晶片的残余应力检测方法.pdf,行业分类电子元件及电子专用材料制造。

内容简要 近年来,以碳化硅(SiC)为代表的第三代半导体材料引发全球瞩目。由于其具有禁带宽、击穿电场强度高、饱和电子迁移率高、热导率大、介电常数小、抗辐射能力强等优点,可广泛应用于新能源…

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