T/CASAS 026—2023碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法.pdf，行业分类电子元件及电子专用材料制造。
内容简要 本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法。本文件适用于少数载流子寿命为20ns～200μs的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价。…
T/CASAS 026—2023碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法.pdf，行业分类电子元件及电子专用材料制造。
内容简要 本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法。本文件适用于少数载流子寿命为20ns～200μs的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价。…