GB/T 42969—2023元器件位移损伤试验方法.pdf， 行业分类电子学。
此标准描述了元器件位移损伤的试验方法。
此标准适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
GB/T 42969—2023
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此标准描述了元器件位移损伤的试验方法。
此标准适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。