GB/T 43226—2023

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GB/T 43226—2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法.pdf, 行业分类航空器和航天器工程。

此标准规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。

此标准适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

GB/T 43226—2023