T/IAWBS 016—2022

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T/IAWBS 016—2022碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法.pdf,行业分类电子元件及电子专用材料制造。

内容简要 本文件根据碳化硅单晶的材料性能特点,并结合目前国内碳化硅晶体质量检测技术的研究水平,对碳化硅单晶摇摆曲线的测量原理、测量精度保障、测量步骤等内容作出了规定。本文件的主要结构和内…

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