GB/T 36477—2018

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GB/T 36477—2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf, 行业分类电子学。

此标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。

此标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

GB/T 36477—2018