T/CESA 1120—2020人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法.pdf，行业分类集成电路设计。
内容简要 本文件规定了对边缘侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于边缘侧深度学习芯片。本文件只规定边缘侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构…
T/CESA 1120—2020人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法.pdf，行业分类集成电路设计。
内容简要 本文件规定了对边缘侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于边缘侧深度学习芯片。本文件只规定边缘侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构…