GB/T 22319.6—2023石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量.pdf， 行业分类电子学。
此标准适用于石英晶体元件激励电平相关性（DLD）的测量。此标准规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC60444-5的π型网络为基础，适用于此标准所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础，适用于此标准所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
